자료유형  

 단행본

ISBN  

9788957173350 93560 : \25000

청구기호  

566.36 박65ㄷ2

저자명  

박용수

서명/저자  

디지털 IC 테스트 = Test of digital IC / 박용수

판사항  

개정판

발행사항  

서울 : 내하출판사, 2011

형태사항  

xii, 612 p. : 삽화, 도표 ; 27 cm

주기사항  

색인수록

주기사항  

부록: 용어사전

가격  

\25000

Control Number  

ansan:74516

책소개  

『디지털 IC 테스트』는 IC 제조분야의 반도체 테스트공정과 관련 공정들을 다룬다. 디지털 IC의 기본 개념과 반도체 소자와 IC 제조, 디지털 IC 및 규격, 디지털 IC 테스트, 테스트 기술, 메모리 테스트, 테스트 장비, 그리고 DFT로 구성되어 있다.