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『디지털 IC 테스트』는 IC 제조분야의 반도체 테스트공정과 관련 공정들을 다룬다. 디지털 IC의 기본 개념과 반도체 소자와 IC 제조, 디지털 IC 및 규격, 디지털 IC 테스트, 테스트 기술, 메모리 테스트, 테스트 장비, 그리고 DFT로 구성되어 있다.

CHAPTER 1 [디지털 IC 테스트 개요]

1.1 IC 테스트

1.2 IC 테스트의 목적

1.3 디지털 IC 테스트 개요

1.4 테스트 공정



CHAPTER 2 [반도체 소자와 IC 제조]

2.1 반도체

2.2 웨이퍼

2.3 반도체소자

2.4 디지털 논리회로

2.5 레이아웃



CHAPTER 3 [디지털 IC 및 규격]

3.1 직접회로

3.2 디지털 IC 분류

3.3 제조공정에 따른 IC 종류

3.4 디지털 IC의 전기적 특성



CHAPTER 4 [디지털 IC 테스트]

4.1 평션테스트

4.2 DC 파라메터 테스트

4.3 AC 파라메터 테스트



CHAPTER 5 [IC 테스트 기술]

5.1 테스트시간 단축

5.2 IC 특성분석

5.3 테스트 최적화

5.4 테스트 오류 제거



CHAPTER 6 [메모리 IC 테스트]

6.1 메모리 IC

6.2 SRAM

6.3 DRAM

6.4 메모리 고려사항

6.5 메모리 테스트 기술



CHAPTER 7 [테스트 장비]

7.1 ATE

7.2 핸들러

7.3 프로버

7.4 번인테스터



CHAPTER 8 [DFT]

8.1 DFT 소개

8.2 디지털 시스템의 고장

8.3 디지털 논리회로 테스트

8.4 DFT



부록 : 용어사전

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