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디지털 IC 테스트 = Test of digital IC
디지털 IC 테스트 = Test of digital IC
- 자료유형
- 단행본
- ISBN
- 9788957173350 93560 : \25000
- 청구기호
- 566.36 박65ㄷ2
- 저자명
- 박용수
- 서명/저자
- 디지털 IC 테스트 = Test of digital IC / 박용수
- 판사항
- 개정판
- 발행사항
- 서울 : 내하출판사, 2011
- 형태사항
- xii, 612 p. : 삽화, 도표 ; 27 cm
- 주기사항
- 색인수록
- 주기사항
- 부록: 용어사전
- 가격
- \25000
- Control Number
- ansan:74516
- 책소개
- 『디지털 IC 테스트』는 IC 제조분야의 반도체 테스트공정과 관련 공정들을 다룬다. 디지털 IC의 기본 개념과 반도체 소자와 IC 제조, 디지털 IC 및 규격, 디지털 IC 테스트, 테스트 기술, 메모리 테스트, 테스트 장비, 그리고 DFT로 구성되어 있다.