소장자료검색

실험 1. 디지털 IC의 기초



1. 표준 접두 기호



2. 고정 저항 색별법



3. 세라믹(마일러)콘덴서와 전해 콘덴서



4. 로직(Logic) IC



5. 메모리(memory) IC



6. IC의 외형



7. TTL과 C-MOS의 비교



8. IC 명명법



9. TTL 게이트의 특성



10. TTL IC의 특성



11. IC 사용 시 주의점



실험 2. NOT, OR, AND 게이트



1. 실험 목적



2. 논리 게이트의 특성



3. IC 핀 번호 1번 표기법



4. 논리 게이트(logic gate)의 논리 레벨(logic level) 정의



5. 정논리(positive logic)와 부논리(negative logic) 정의



6. 실험



실험 3. NOR, NAND 게이트



1. 실험 목적



2. NOR 게이트



3. NAND 게이트



4. 기본 논리 게이트의 NAND/NOR 게이트 변환



5. 실험



실험 4. 불대수와 드모르강 정리



1. 실험 목적



2. 불대수의 정리



3. 드모르강 정리



4. 실험



실험 5. X-OR, X-NOR 게이트



1. 실험 목적



2. X-OR, X-NOR 논리 특성



3. 실험



실험 6. 간단한 논리회로 실험



1. 실험 목적



2. 각 코드의 종류와 진리표



3. 패리티 체커



4. 실험



실험 7. 가산기와 감산기 회로



1. 실험 목적



2. 가산기



3. 감산기



4. BCD 가산기



5. 실험



실험 8. 비교기 회로



1. 실험 목적



2. 비교기



3. 실험



실험 9. 인코더와 디코더



1. 실험 목적



2. 인코더(encoder)



3. 디코더(decoder)



4. 실험



실험 10. 멀티플렉서와 디멀티플렉서



1. 실험 목적



2. 멀티플렉서(MUX;multiplexer)



3. 디멀티플렉서(DEMUX;demultiplexer)



4. 실험



실험 11. RS 래치와 RS 플립플롭



1. 실험 목적



2. RS-래치회로



3. RS-플립플롭(flip flop)



4. 실험



실험 12. JK, D, T 플립플롭



1. 실험 목적



2. JK 플립플롭



3. D-플립플롭



4. T 플립플롭



5. 실험



실험 13. 비동기식 2식 카운터



1. 실험 목적



2. 카운터의 종류



3. 비동기식 2진 카운터(2n진 카운터)



4. 실험



실험 14. 비동기식 모듈러스 카운터



1. 실험 목적



2. 비동기식 모듈러스 카운터



3. 리셋형 모듈러스-6 카운터



4. 비동기 직접 동작형 모듈러스-5 카운터



5. 실험



실험 15. 동기식 카운터



1. 실험 목적



2. 동기식 카운터



3. 특성 방정식을 이용한 동기식 카운터 설계



4. 실험



실험 16. 시프트 레지스터와 시프트 카운터



1. 실험 목적



2. 시프트 레지스터(shift register)



3. 카운터 설계



4. 실험



실험 17. 비안정/단안정 멀티바이브레이터



1. 실험 목적



2. 비안정 멀티바이브레이터(astable multivibrator)



3. 단안정 멀티바이브레이터(monstable multivibrator)



4. 실험



실험 18. 응용회로



1. DIVIDER 회로



2. 8비트 A/D 회로



3. 카운터 회로



4. 9진 계수회로



5. DEMUX 회로



6. DATA 전송회로



7. DATA 분주회로



8. TDM의 원리



9. RZ 전송회로



10. CARRY 계수회로



11. PCM CODEC 회로



12. 디지털 시계



부록



1. 74시리즈 TTL & HC-MOS



2. 4000/4500 시리즈 C-MOS